nSpec®LS
世界上最先进的自动检测系统
检测系统的设计允许简单地设置重复的质量控制测试,除了单一的图像捕获或扫描设置。配置选项包括晶圆尺寸、要识别的缺陷类型和扫描分辨率。可选配硅片装载机和各种样品卡盘,以满足特殊需求。nSpec®也兼容我们的第四代人工智能软件,的印象,一个人工智能图像分析器,允许检测和分类感兴趣的特征。
nSpec®LS
光学检查:
- 衬底晶片
- Epi晶片
- 有图案的晶片
- 丁晶片
- 个人设备
nSpec
®LS
特性
多分辨率设置
快速扫描
晶片拼接
可定制的缺陷报告
晶圆尺寸、缺陷类型和扫描分辨率的配置选项
样品卡盘大小,以满足特殊需要
nSpec®LS
规范
- 旅行,典型的
200mm X和Y方向
- 集中载荷能力
2.27公斤
- 可重复性
+ / - 0.5μm
- 步长
0.04μm
- 旅行的平面度
30μm
- 重量
54公斤
- 限位开关
机械、non-adjustable
- 晶圆真空吸盘(选配)
可调到50,75,100,150, 200,或300mm
- 白照明:
LED(其他选项)
- Brightfield /暗视野的目标:
5倍、10倍、20倍或50倍,用户可选择
- 微分干涉对比:
(Normarski)
- 舞台,焦点,镜头,照明,相机
用户操作手册